產(chǎn)品分類
c)對(duì)于外徑超過12.5mm，絕緣厚度超過5.0mm的絕緣線芯，每個(gè)試樣應(yīng)按b)規(guī)定切取窄條，然后窄條的外表面磨或削（避免過熱）到4.0～5.0mm厚，該厚度應(yīng)在窄條的較厚部分測(cè)得，窄條的寬度至少是厚度的1.5倍。 1.3試樣卷繞 每個(gè)試樣應(yīng)在環(huán)境溫度下緊密地在試棒上繞成螺旋形，并將兩端固定。 試棒直徑和卷繞圈數(shù)規(guī)定如下： a)按1.2a）項(xiàng)制備的試樣、扁平電纜或軟線，表1規(guī)定了試棒的直徑和卷繞圈數(shù)。試棒直徑應(yīng)按其短軸尺寸選取，卷繞時(shí)使其短軸垂直于試棒。 表1 試樣外徑D/mm 試棒直徑/mm 卷繞圈數(shù) D≤2.5 5 6 2.5＜D≤4.5 9 6 4.5＜D≤6.5 13 6 6.5＜D≤9.5 19 4 9.5＜D≤12.5 40 2 b)按1.2b）和1.2c）制備的試樣，表2規(guī)定了試棒的直徑和卷繞圈數(shù)。在這種情況下，試樣的內(nèi)表面應(yīng)與試棒接觸。 表2 試樣厚度δ/mm 試棒直徑/mm 卷繞圈數(shù) δ≤1 2 6 1＜δ≤2 4 6 2＜δ≤3 6 6 3＜δ≤4 8 4 4＜δ≤5 10 2 上述表格中，試樣直徑或試樣厚度應(yīng)用游標(biāo)卡尺或其他合適的測(cè)量工具進(jìn)行測(cè)定。 1.4加熱和檢查 繞在試棒上的試樣應(yīng)放入預(yù)熱到有關(guān)電纜產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定試驗(yàn)溫度的空氣烘箱中，如果電纜標(biāo)準(zhǔn)沒有規(guī)定，則預(yù)熱到（150±3）0C，試樣在規(guī)定溫度下保持1h。 加熱結(jié)束后從烘箱中取出試樣并在試樣達(dá)到近似環(huán)境溫度后，檢查仍在試棒上的試樣。 1.5試驗(yàn)結(jié)果的評(píng)定 用正常視力或矯正后的視力而不用放大鏡進(jìn)行檢查時(shí)，試樣應(yīng)裂紋。 2、護(hù)套熱沖擊試驗(yàn) 2.1取樣 每個(gè)被試護(hù)套應(yīng)取兩根適當(dāng)長(zhǎng)度的電纜試樣，試樣取自兩處，間隔至少1m。若有外護(hù)層應(yīng)除去。 2.2試樣制備 a)對(duì)于外徑不超過12.5mm的護(hù)套，每個(gè)試樣應(yīng)是一段電纜，但聚乙烯絕緣、聚乙烯護(hù)套電纜除外。 b)對(duì)于外徑超過12.5mm，厚度不超過5.0mm的護(hù)套和聚乙烯絕緣電纜的護(hù)套，每個(gè)試樣應(yīng)是取自護(hù)套上的窄條，其寬度至少是護(hù)套厚度的1.5倍，但不小于4mm，窄條應(yīng)沿電纜的軸線方向切取。 c)對(duì)于外徑超過12.5mm，厚度超過5.0mm的護(hù)套，每個(gè)試樣應(yīng)是按b）項(xiàng)規(guī)定切取的窄條，然后在窄條的外表面磨或削（避免過熱）到（4.0～5.0mm）厚，該厚度應(yīng)在窄條的較厚部分測(cè)得，窄條的寬度至少是厚度的1.5倍。 d)對(duì)于扁電纜，如果電纜的寬度不超過12.5mm，每個(gè)試樣應(yīng)是一段完整的電纜。如果電纜寬度超過12.5mm，則每個(gè)試樣應(yīng)是按b）規(guī)定從護(hù)套上切取的窄條。 2.3試樣卷繞 每個(gè)試樣應(yīng)在環(huán)境溫度下緊密地在試棒上繞成螺旋形，將兩端固定。 按2.2a)項(xiàng)制備的試樣，及2.2d)項(xiàng)寬度不超過12.5mm的扁平電纜，試棒的直徑和卷繞圈數(shù)應(yīng)按照1.3a)項(xiàng)規(guī)定。試棒直徑應(yīng)按電纜的短軸尺寸選取，卷繞時(shí)應(yīng)使其短軸垂直于試棒。 按2.2a)和2.2c)項(xiàng)制備的試樣，及2.2d)項(xiàng)寬度超過12.5mm的扁平電纜，試棒直徑和卷繞圈數(shù)應(yīng)按照1.3b)項(xiàng)規(guī)定。在這種情況下，試樣的內(nèi)表面應(yīng)與試棒接觸。 2.4加熱和檢查 按1.4的規(guī)定 2.5試驗(yàn)結(jié)果的評(píng)定 按1.5的規(guī)定
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