電纜光纜絕緣護套高溫壓力試驗裝置

簡要描述：電纜光纜絕緣護套高溫壓力試驗裝置用于測量電線電纜絕緣和外被在高溫與壓力下產(chǎn)生的壓痕，以確定電線電纜絕緣護套在高溫壓力下的彎曲試驗。與老化試驗箱配套使用。符合GB/T2951.31-2008、GB/T2951.6-1997、JB/T4278.12-2011標準要求（電纜和光纜聚氯乙烯混合料試驗方法）。

產(chǎn)品型號：
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
更新時間：2024-08-20
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    KTR009電纜光纜絕緣護套高溫壓力試驗裝置

    電纜光纜絕緣護套高溫壓力試驗裝置用于測量電線電纜絕緣和外被在高溫與壓力下產(chǎn)生的壓痕，以確定電線電纜絕緣護套在高溫壓力下的彎曲試驗。與老化試驗箱配套使用。符合GB/T2951.31-2008、GB/T2951.6-1997、JB/T4278.12-2011標準要求（電纜和光纜聚氯乙烯混合料試驗方法）。

    一、主要技術參數(shù)：

    1、試驗工位：3個

    2、刀口深度：0.7±0.01mm

    3、作用于刀片上荷重由公式求得：F=k2Dδ-δ2

    4、適用zui大直徑：55mm，其他規(guī)格依據(jù)客戶要求訂做

    5、作用于刀片上荷重：100、200、300、400、500、600、700、

    800、900、1000g，每種3個共30個。也可由提供數(shù)據(jù)定做

    6、外形尺寸L*W*H約：255*155*330mm

    7、材質(zhì)：全SUS304不銹鋼

    8、重量約：30KG

    二、絕緣的高溫壓力試驗方法如下：

    1、絕緣高溫壓力試驗

    1.1取樣

    對每個被試絕緣線芯，從每個長度為250～500mm樣段上截取3個相鄰的試樣。試樣長度應為50-100mm。

    無護套的扁平軟線的絕緣芯不應分開。

    1.2試樣制備

    用機械方法除去試樣上的所有的護層，包括半導體電層（若有的話）。根據(jù)電纜的類型，試樣可以是圓形或扇形截面。

    1.3試樣的放置

    壓痕裝置如圖1所示，由刀口厚度為（0.70±0.01mm）的矩形刀片組成,刀片可對試樣加壓.每個試樣放置在如圖1所示的位置上。無護套扁平軟線應以扁平邊放置。小直徑試樣在支撐板上的固定方式不應使試樣在刀片壓力下發(fā)生彎曲。扇形試樣應放置在如圖1所示的帶扇形凹槽的支撐板上，沿垂直于試樣軸線的方向施加壓力，刀片也應與試樣軸線垂直。

    1.4計算壓力

    刀片作用于試樣（圓形和扇形絕緣線芯）上的壓力F，以N為單位，應按下式計算：

    F=k2Dδ-δ2

    式中：

    K---有關電纜產(chǎn)品標準中規(guī)定的系數(shù)。如沒有規(guī)定，則應為：

    軟線和軟電纜的絕緣線芯，K=0.6

    D≤15mm的固定敷設用電纜絕緣線芯，K=0.6

    D＞15mm的固定敷設用電纜絕緣線芯及扇形絕緣線芯，K=0.7

    δ---絕緣試樣厚度的平均值；

    D---試樣外徑的平均值。

    δ和均以mm計,到小數(shù)點后一位。按GB/T2951.11-2008規(guī)定的試驗方法,在試樣端頭切取的薄片上測得。

    對于扇形線芯,D為扇形“背部”或圓弧部分直徑的平均值，用測量帶在電纜纜芯上測量三次后取平均值，以mm計，到小數(shù)點后一位（測量應在纜芯上三個不同地方進行）。

    作用于無護套扁平軟線試樣上的壓力應是按上述公式計算所得的值的兩倍，其中D為1.1所述試樣短軸尺寸的平均值。

    壓力F的計算值可以向較小值化整，但舍去的值應不超過3%。

    1.5試樣加熱

    試驗應在空氣烘箱中進行，試驗設備和試樣放在烘箱中不應振動；或者放在有防振支架的空氣烘箱中進行。任何可能引起試樣振動的設備諸如鼓風機等，不允許直接與烘箱接觸。

    烘箱中空氣溫度應一直保持在有關電纜產(chǎn)品標準規(guī)定的溫度。

    未預熱的受壓試樣在烘箱中放置的時間按有關電纜產(chǎn)品標準規(guī)定，如電纜產(chǎn)品標準沒有規(guī)定，則按如下規(guī)定：

    ---試樣外徑D≤15mm時為4h;

    ---試樣外徑D＞15mm時為6h。

    1.6試樣冷卻

    規(guī)定的加熱時間結(jié)束后（見1.5試樣加熱），試樣在烘箱中，在壓力作用下應訊速冷卻，可用冷水噴射壓在刀口下的式樣來冷卻。絕緣試樣冷卻至室溫并不再繼續(xù)變形后，從試驗裝置中取出，然后浸入冷水中進一步冷卻。

    1.7壓痕測量：

    試樣冷卻后立即測量壓痕深度。

    應抽出導體留下管狀絕緣試樣。

    應沿著試樣的軸線方向，垂直于壓痕從試樣上切取一窄條試片，如圖2所示。

    將窄條試片平放在讀數(shù)顯微鏡或測量投影儀下，并將十字線調(diào)到壓痕底部和試片外測（如圖2示）

    外徑約6mm及以下的小試樣應在壓痕處和壓痕附近橫向切取兩個試片（如圖3示）。壓痕深度應是剖面圖1和剖面圖2在顯微鏡下的測量值之差（如圖3所示）

    全部測量值均以mm計，到小數(shù)點后兩位。

    1.8試驗結(jié)果的評定：

    從每個試樣上切取的三個試片上測得壓痕中間值，應不大于試樣絕緣厚度（按1.4測量）平均值的50%。

    （注：所定的50%這個值與公式的基本原則有關，并且對所有材料都是一樣的。試驗嚴格程度僅隨系數(shù)K的變化而變化，但50%這個值不變）。

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